Actividad
La microscopía electrónica es una técnica esencial para la mayoría de los Proyectos de Investigación, Contratos con la Industria e Informes de Apoyo Tecnológico que se llevan a cabo en el CENIM y en otros Institutos del CSIC y otros OPIs.
Este laboratorio realiza la caracterización microestructural y microanalítica de muestras muy diferentes debido a la diversidad de estudios que se llevan a cabo en el CSIC. Una parte importante del tiempo se emplea en la realización de estudios fractográficos para determinar las causas de fallos en servicio de diferentes componentes.
Entre los materiales y tipos de muestras que se estudian destacaremos: Materiales metálicos (Aleaciones ligeras, intermetálicos, aceros, nanomateriales, amorfos, aleaciones no férreas, materiales oxidados y/o corroídos, análisis fractográfico); Materiales compuestos; Minerales, vidrios, cementos; Materiales para aplicaciones biomédicas; Superconductores, compuestos iónicos y estudio de piezas de interés histórico-artístico.
Personal
Paloma Adeva Ramos
Gabriel Carro Sevillano
Martin Ian Maher
Judit Medina Caballero
Pablo Pérez Zubiaur
Antonio Tomás López
Responsables científicos: Paloma Adeva y Pablo Pérez Zubiaur
Responsable técnico: Antonio Tomás López
Integrantes anteriores:
Montserrat Aparicio
Alfonso García Delgado
Pablo González Aparicio
Joaquín Ibáñez Ulargui
Federico Morcillo Soisa
Wilfredo Edgar More Seminario
María Fernanda Vega
Prestaciones
- Microscopía Electrónica de Barrido de alta resolución.
Observación de muestras en microscopios electrónicos de barrido de alta resolución (emisión de campo):
- Jeol JEM 6500F: Emisión de campo de cátodo caliente con una resolución de 1.5 nm a 15 kV y de 5 nm a 1 kV. Equipado con sistema de microanálisis Oxford INCA Energy 200.
-
Hitachi S4800: Emisión de campo de cátodo frío con una resolución de 1 nm a 15 kV y de 2 nm a 1 kV. Equipado con sistema de microanálisis Oxford SDD Xmax20.
MEB Hitachi S 4800 J
- Caracterización microestructural: Microscopía Electrónica de Transmisión y Microanálisis
Observación y estudio de muestras en un microscopio electrónico de transmisión analítico (TEM) Jeol JEM 2010: 200 kV, resolución 0,19 nm, Cs 0,5 mm, doble tilt +- 45°. Está equipado con sistema de microanálisis de rayos- X por dispersión de energía con un detector XMax80T de Oxford y Cámara CCD Gatan Orious 600.
El estudio de las muestras se hace mediante imágenes de campo claro, campo oscuro, diagramas de difracción de electrones de área seleccionada, microdifracción y microanálisis. Los estudios que se llevan a cabo están relacionados con la observación de granos, tamaño y orientación, fenómenos de precipitación, determinación de estructuras cristalinas de las fases presentes y composición química, análisis de defectos, etc.
Jeol JEM 2010: 200 kV
- Estudios cristalográficos mediante EBSD en el Microscopio Electrónico de Barrido de emisión de campo.
Estudio de parámetros microestructurales y cristalográficos de materiales metálicos pulidos, mediante el cálculo de ángulos y espaciados de los diagramas de difracción de electrones retrodispersados (EBSD) generados en muestras pulidas.
Tipos de análisis: puntuales, discriminación de fases, mapas de orientación y textura, distribución de tamaño de grano, tipo de fronteras, etc.
Equipo: HKL Nordlys Channel 5 instalado en el microscopio SEM JSM6500F.
MEB Jeol JSM 6500
- Metalización y Sputtering.
Recubrimiento con una película conductora para la observación de muestras no conductoras y realización de microanálisis en el SEM. Este proceso se lleva a cabo mediante evaporación térmica o sputtering dependiendo del metal a depositar según el estudio a realizar y señal a emplear.
– Evaporador de carbono y metales Jeol JEE4B
– Sputtering de Au SPI
- Adelgazamiento iónico.
– Adelgazamiento final de muestras para observación al TEM
– Adelgazador Iónico de doble cañón Fischione 1010
- Condiciones de servicio:
La petición del trabajo y reserva de las sesiones se lleva a cabo:
– Mediante la aplicación habilitada en la intranet del CENIM si se trata de servicios internos del Instituto.
– Mediante correo electrónico al responsable científico o técnico del laboratorio (microscopia@cenim.csic.es) si se trata de servicios externos a otros Institutos del CSIC, OPIs y Universidades o empresas.
– Las sesiones se inician a las 9 horas y finalizan a las 17 horas.
