Integrantes
Responsables científicos:
Responsable técnico:
Presentación
El laboratorio de Caracterización de Superficies del CENIM cuenta con un Sistema de Gestión de Calidad según la ISO 9001:2015 con certificado nº SGI 6016951 y pertenece a la Red de Laboratorios de la Comunidad de Madrid con el nº 347, categoría: reconocimiento externo.
El Laboratorio posee dos técnicas de análisis de superficies:
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- Espectroscopía Fotoelectrónica de rayos X (XPS), VG Microtech, modelo MT 500, (Fisons Instruments), con una fuente de Rayos X dual (Mg/Al), detector CMA de tres channeltron y cañón de iones EX05 para el bombardeo por iones Ar con el que se pueden obtener perfiles de composición hasta un máximo de 100 nm.
- Microscopía de fuerza atómica (AFM), marca Agilent modelo 5100.
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El análisis por AFM permite obtener una medida de la topografía y rugosidad de muestras sólidas tanto en aire como en líquidos. Dependiendo de la punta es posible obtener información sobre otras propiedades superficiales (medida de diferencias de potencial (SKP), conductividad, etc.
Condiciones del Servicio
El Laboratorio de Caracterización de Superficies asegura que las actividades de análisis se realizan conforme a lo detallado en las Instrucciones Técnicas específicas, utilizando:
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- Métodos de análisis adecuados,
- Equipos calibrados o verificados,
- Patrones, materiales de referencia, reactivos y otros consumibles en buenas condiciones,
- Personal técnico cualificado, y
- Controles de calidad internos especificados en las IT.
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El Laboratorio dispone de Hojas de Ruta específicas, en el que se registran las distintas actividades realizadas durante el proceso de análisis, incluyendo las actividades de manipulación de la muestra, asegurando que en todo momento se puede identificar el estado del análisis.
La petición del trabajo a realizar se llevará a cabo:
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- Mediante la aplicación habilitada en la intranet del CENIM, servicios internos
- Mediante correo electrónico al responsable del laboratorio, servicio externo
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1. XPS
Esta técnica se aplica al análisis químico elemental de superficies de materiales y está basada en el efecto fotoeléctrico. Según este principio físico, al hacer incidir un haz de rayos X sobre la muestra se arrancan electrones cuya energía va a depender de la energía de la radiación incidente y de la energía con la que el electrón estaba ligado al átomo, permitiendo el análisis cualitativo y semicuantitativo de todos los elementos, excepto el H y el He, aportando información además sobre el estado químico de los mismos, siempre y cuando su concentración en la muestra sea superior al 0.5% en porcentaje atómico.
El equipo es el modelo MT 500 de VG Microtech, (Fisons Instruments), con una fuente de Rayos X dual (Mg/Al), detector CMA de tres channeltron y cañón de iones EX05 para el bombardeo por iones Ar.
Las muestras pueden ser sólidas o en polvo, tanto conductoras como aislantes. Dimensiones máximas muestras sólidas: 1.5x1.5 cm y espesor 4mm
2. AFM
El Microscopio de fuerza atómica (AFM, de sus siglas en inglés Atomic Force Microscope) es un instrumento capaz de registrar continuamente la topografía de una muestra mediante una sonda o punta afilada de forma piramidal o cónica. Eso permite la medida de la topografía y rugosidad de la muestra en aire y líquidos. Dependiendo de la punta, es posible la medida de otras propiedades superficiales (SKP, conductividad, etc.). Las muestras sólidas deben estar pulidas y el espesor máximo admitido es de 6mm.
Prestaciones
1) XPS
Se llevan a cabo análisis de la composición química y estado de oxidación de los elementos que componen la superficie en todo tipo de materiales. Las muestras deben ser capaces de soportar ultra-alto vacío y no degradarse por la acción de los rayos X. Existen algunas limitaciones al tamaño de las muestras dadas por la geometría del sistema. Se recomienda consultar.
El laboratorio dispone de dos tipos de tarifas, con y sin interpretación de los resultados. En cualquier caso, se proporcionarán los ficheros correspondientes a las medidas realizadas junto con el correspondiente informe si se solicita la interpretación.
2) AFM
Se puede trabajar en los siguientes modos:
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- Obtención de imágenes topográficas en modo contacto, medidas de rugosidad superficial, escalones
- Obtención de imágenes topográficas en modo tapping, obtención de imagen de fase y medidas de rugosidad
- Medidas de potencial de superficie para determinar la presencia de cargas en la superficie de la muestra (microscopia de sonda Kelvin de barrido (SKFM)).
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Se dispone de dos scanners, uno de 100 µm y otro de alta resolución de 10 µm. Las muestras deben ser sólidas y estar secas (no se pueden analizar en polvo). Las dimensiones máximas admitidas son 40x40x6 mm. La altura máxima de la topografía a registrar debe ser inferior a 5 µm para el scanner de 100 µm y 1 µm para el scanner de 10 µm. Igualmente es posible llevar a cabo la realización de las medidas con y sin interpretación de resultados.
Tarifas
| Prestación | Sector público | Otros clientes | |
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Precio por muestra |
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| Microscopía de barrido: AFM contacto
Microscopía de barrido: Tapping AFM Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza KPFM (Kelvin Probe Force Microscopy) Microscopía de barrido: Microscopía de Fuerza Atómica conductiva C-AFM |
General | 123,03 € | 134,75 € |
| General con informe | 146,12 € | 160,04 € | |
| Spectroscopy X-ray Phototelectron Spectroscopy | General | 78,79 € | 86,29 € |
| Interpretación de análisis XPS | 180,67 € | 197,88 € | |