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17/02/2016 Técnicas de rayos X: análisis elementales y de estructura cristalina

Seminario conjunto ofrecido por el CENIM y la empresa Paralab sobre técnicas de fluorescencia de RX y difracción de RX de polvo y sus aplicaciones.

Programa

9:30h – 10:00h: Presentación

10:00h – 10:30h: Difracción de Rayos X (XRD): fundamentos y aplicaciones. José Antonio Jiménez (CENIM.CSIC)

10:30h – 11:30h: Smartlab: Sistema inteligente de difracción de rayos X. Keisuke Saito (Rigaku)

11:30h - 12:00h: Pausa - café ofrecido por Paralab

12:00h – 12:30h: Miniflex: Instrumento de difracción de rayos X (DRX o XRD) de sobremesa. Keisuke Saito (Rigaku)

12:30h – 13:30h: Demostración uso Minifle. Keisuke Saito (Rigaku)

13:30h – 14:30h: Comida ofrecida por Paralab

14:30h – 15:00h: Fluorescencia de rayos X (XRF): Fundamentos y aplicaciones. Oleksandr Slipeniuk (Rigaku)

15:00h – 15:30h: Preparación de muestras para XRF. Lea Vaiana (Paralab)

15:30h – 16:30h: Primus: Espectrómetro de fluorescencia de rayos X de dispersión por longitud de onda. Oleksandr Splipeniuk (Rigaku)

16:30h – 17:00h: Supermini: Espectrómetro sencuencial WDRXF de alta potencia de sobremesa. Oleksandr Splipeniuk (Rigaku)

Inscripciones:

A través del enlace: http://bit.ly/1X2sk10
Comunicación telefónica: 931 701 780

Con la colaboración de: