Equipamiento relevante del centro

equipamiento

  • Microscopios Electrónicos: SEM-FEG HITACHI S-4800; SEM-FEG JEOL JSM 6500F equipado con EBSD; TEM JEOL 2010.
  • Difractómetros de Rayos-X: Siemens D5000 y Bruker AXS D8.
  • XPS (X-ray photoelectron spectrometer) y Microscopio de Fuerza Atómica (AFM) para análisis y caracterización de superficies.
  • Espectrómetros de Infrarrojo por Transformada de Fourier y ATR, Absorción atómica y Fluorescencia de Rayos-X.
  • Sistema de Ultra-micro indentación.
  • Laboratorio de Ensayos Mecánicos (máquinas de tensión, compresión, torsión, fatiga y resistencia).
  • Dilatómetros de última generación.
  • DTA, TGA y DSC para análisis térmico gravimétricos.
  • Sistemas electroquímicos de corrosión (LEIS, SECM y sonda Kelvin).


Otro equipamiento